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高速スイッチング特性の計測とは？課題と対策・製品を解説
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評価・分析・検査における高速スイッチング特性の計測とは？
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米国SuperApex社はMMICファブレスメーカで、日本及び世界に採用実績が
豊富です。
GaAs、GaN製品は周波数65GHzまでそろえており、量子コンピュータ、通信、
計測、ミリタリ、センサー、メディカルなどのアプリケーションもご用意。
当社は高い品質の製品を、できるだけ低価格でお届けします。
【ラインアップ】
■ローノイズ・アンプ
■ドライバ・アンプ
■パワー・アンプ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DC～58GHz MMIC アンプ セレクションガイド
当社では、半導体の光学的評価・電気特性評価やプローブテスト等の
『パワー半導体解析ソリューション』を提供しております。
PLスペクトルの各種測定条件依存性の解析、ホール効果測定やデバイスの
各種電気特性結果の解析など、幅広い解析に対応。
高精度な解析結果から次のアクションに結びつけ、開発コスト抑制に
貢献いたします。
【特長】
■先進の測定技術
■幅広い解析対応
■専門的見解も添えて提供
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
パワー半導体解析ソリューション
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評価・分析・検査における高速スイッチング特性の計測
評価・分析・検査における高速スイッチング特性の計測とは？
パワーデバイス・モジュールは、電力変換効率や信頼性に直結する高速なスイッチング特性が求められます。この計測は、デバイスの性能を正確に把握し、設計・製造プロセスの改善、さらには最終製品の品質保証に不可欠です。
課題
計測時間の長期化
高速スイッチング現象は非常に短時間で発生するため、従来の計測方法では十分なサンプリングレートが得られず、詳細な波形を取得するのに時間がかかる。
計測精度の低下
高周波信号の取り扱いや、寄生インダクタンス・キャパシタンスの影響により、本来のデバイス特性から乖離した計測結果が得られやすい。
再現性の確保困難
微細な信号変化や外部ノイズの影響を受けやすく、同一条件下での繰り返し計測においても安定した結果を得ることが難しい。
解析ツールの限界
取得した大量の高速データから、スイッチング損失や過渡応答などの重要なパラメータを効率的かつ正確に抽出・分析できる専用ツールが不足している。
対策
高帯域幅計測器の導入
ナノ秒以下の応答速度に対応できる広帯域幅を持つオシロスコープやプローブを使用し、高速なスイッチング波形を忠実に捉える。
測定環境の最適化
ノイズ対策を施したシールドルームでの計測や、寄生要素を最小限に抑えるための専用治具・配線設計を行う。
自動化・プロトコル化
計測シーケンスの自動化や、標準化された測定プロトコルを導入することで、人為的ミスを減らし、再現性の高い計測を実現する。
高度解析ソフトウェアの活用
AIや機械学習を活用した解析ソフトウェアを導入し、複雑な波形データから迅速かつ高精度に特性パラメータを抽出・評価する。
対策に役立つ製品例
高速応答デジタルオシロスコープ
非常に短い時間スケールでの電圧・電流の変化を高い精度で捉え、高速スイッチング現象の波形を詳細に観測できる。
高精度電流プローブ
微小な電流変化も正確に検出し、スイッチング時の電流波形を歪みなく計測することで、損失評価の精度を高める。
自動計測・解析ソフトウェア
事前に定義された手順に基づき、複数の計測器を連携させて自動で測定を実行し、取得データをリアルタイムで解析・レポート化する。
パワーデバイス評価システム
スイッチング試験、熱特性評価、信頼性試験などを統合的に行えるプラットフォームを提供し、包括的なデバイス評価を可能にする。
