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微細な欠陥検出とは?課題と対策・製品を解説

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光半導体・電子デバイスにおける微細な欠陥検出とは?
各社の製品
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『RS-80 HEV』は、顔あたりのよいラバークッションを使用し、
レーザ光の侵入を防ぐ保護めがねです。
矯正眼鏡の上から装着できるオーバーグラスタイプで、
眼鏡あり・なしのどちらでも違和感なく着用可能。
顔に合わせてレンズの角度を調節でき、すべての方が快適な
フィット感を得られます。
【特長】
■顔あたりのよいラバークッションを使用
■顔に合わせてレンズの角度を調節できる
■矯正眼鏡の上から装着できるオーバーグラスタイプ
■同フレームの他レンズもご用意可能
■適応レーザ:He-Ne、Krypton、He-Ne(ルビー)
■適応波長範囲:600-700nm
■OD値:2
■可視光線透過率:14%
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハイスペック&ローコスト!スリムでコンパクトなボディに高性能を凝縮したCCDスキャナです。
■スリム&コンパクトなボディ
■タッチ読みから離し読みまで対応
■離し読みにより、読取幅は約100mmまで対応
■32bit CPUにより、軽快な読み味を実現
『DTAI150』は、AIを使った検査ソフトを開発する為の対象物の画像ファイルを
自動撮影をして画像ファイルを蓄えるシステムです。
対象物をステージに置いて、自動的に回転させながら画像を複数枚撮影可能。
煩雑な画像撮影が省力化でき、照明やカメラの調整が簡単に行えます。
カメラ、撮影ステージ、照明、パソコン、モニター、ソフトウエアをセットにして
簡単に画像撮影と保存ができます。
【特長】
■自動的に回転させながら画像を複数枚撮影可能
■煩雑な画像撮影が省力化できる
■照明やカメラの調整が簡単に行える
■撮影対象寸法の変更などの要望にお応え
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です!
・ウェハ(基板)の欠陥目視検査を自動化したい。
・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。
・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。
・自動で欠陥弁別したい。
■装置の特長
・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。
・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。
・手動機/自動搬送(カセットtoカセット)とも提案可能です。
・AI機能も実装しており、学習を進めることで
欠陥弁別精度向上が可能です。
『M-CONTactシリーズ』は、自動コンタクト機能搭載により点灯率100%を
実現するFPDモジュール自動点灯検査装置です。
高精細カメラ撮像をより効果的に活用できるように、細部まで様々な配慮を
施しており、特に外部からの振動を遮断し撮像画像のブレ防止、密閉型の
装置構造と徹底した暗室環境を整えることで、撮像環境での発生する
外乱要因による誤検出を防ぐための最大の配慮を行っています。
【特長】
■自動コンタクト機能搭載により点灯率100%を実現
■キューブ形状、コンパクトな装置構造により自由に配置可能
■除振構造、高暗室構造により鮮明画像を撮像
■より生産現場に近い対応バリエーション
■検査対象FPC実装後モジュール
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
有限会社オプトデバイスでは、
リング照明「OPT-R5000-W/R」をはじめ、
バー照明「OPT-B3016-R/W」や、
LED面照明「OPT-FP3030-R/W」など、
用途に合わせた幅広い製品をラインナップしております。
【特徴】
○発光色は、R:赤 、W:白 、B:青 、G:緑
○W、B、Gの消費電力は同じ
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
当社は、パシフィコ横浜にて「レーザーEXPO」を開催いたします。
情報通信、材料加工、計測など広範にわたる応用においてレーザー技術が
採用され、市場も拡大傾向にあります。本展は研究・開発、生産に至る、
国内外のレーザー製品が一堂に会するレーザー技術総合展です。
製造加工業など光分野に関係のあるお客様は、この機会に是非ご参加下さい。
皆様のご来場を、心よりお待ちしております。
【概要】
■会期:2023年4月19日(水)~21日(金) 10:00~17:00
■会場:パシフィコ横浜(〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)
■入場料:無料(但し、完全事前登録制)
■7つの展示会によって構成される「OPIE'23」内で開催
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『FG-RTシリーズ』は、従来の光学的検査方法に独自の画像処理技術を
開発し世界最高クラスの可視化検査を実現するガラス脈理検査装置です。
可視化レベルが極めて高く、不良が見つかった際に部署間や企業間で
確実な情報のやりとりと共有が可能です。
また、目視検証だけでは不良のグレード分けが困難でしたが、
指定箇所の輝度値を管理することによりクラス分けの指標にもなります。
【特長】
■世界最高クラスの可視化検査の実現
■観測空間にサンプルを投影させるだけで容易に検証可能
■優れた操作性により膨大なサンプルの検査にも対応
■長寿命LEDと手軽に交換が可能なカートリッジを搭載
■光学系は用途に応じてカスタム対応も可能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『Pixel illuminator-C』は、イメージング機能とレーザ照射機能が
一体化されたCマウント対応ユニットです。
画像解析・画像認識との組合せにより、照射したい部分のみへの
レーザ光照射が可能となり、照射時間を短縮できます。
レンズ倍率を変更しても、観察画像で指定した位置にレーザ照射が可能です。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
【特長】
■カメラポートにダイレクト接続
■カメラ撮影画像を用いたレーザ照射位置指定
■顕微鏡制御ソフトとのデータ連携/タイミング連携可能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『レンズ外観検査装置』は、高速高解像度カメラと照明系を工夫して
小型レンズの(スマホ含む)の外観検査を高速高精度で行います。
異物や傷、クラック等の検査も可能。手動でサンプルを搭載し、検査は
自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより
圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。
また、インラインにも容易に対応致します。
【特長】
■レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応
■異物や傷、クラック等の検査も可能
■高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現
■インラインにも容易に対応
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『xiMU』は、当社のポートフォリオおよび産業用カメラです。
省スペースのUSB-Cコネクタを備えたUSB 3.1インターフェースにより、
最大18 Mpix解像度で毎秒最大21フレームの高速画像データ転送が可能。
また、グローバルリセットセンサーにより、モーションを伴う
アプリケーションは除外されず、4つの汎用I/Oポートにより、
トリガーされた照明や周辺機器を簡単に使用できます。
【特長】
■超小型、高速、高感度
■超低消費電力
■極小l単一 PCB、設計構造(ボードレベル バージョン有/5MP)
■4x 双方向GPIO装備
■校正 及び 線形性能確保で出荷
■堅牢、軽量、アルミ合金 CNC精密ハウジング
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。











