
光技術・フォトニクスに関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
デバイスの長寿命化とは?課題と対策・製品を解説
目的・課題で絞り込む
カテゴリで絞り込む
ポジショニング |
レーザー |
レンズ設計・製造 |
宇宙・天文光学 |
光と画像のセンサ&イメージング |
光源・光学素子 |
光通信・要素技術&応用 |

光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化とは?
各社の製品
絞り込み条件:
▼チェックした製品のカタログをダウンロード
一度にダウンロードできるカタログは20件までです。
当社では、2D分光輝度計測による複数のサブピクセルを一括測定・
評価・判定するOLEDパネルモジュール寿命評価ソリューションを
提供しております。
発光素子毎、発光素子内の輝度・色度・分光ムラを測定し、
信号発生パターン・測定ステップ・判定項目を簡単設定。
また、各種表示パターン毎の焼付き評価をサブピクセルレベルで
実現しています。
【特長】
■2D分光輝度計+工業用顕微鏡による「顕微分光計測」
■サブピクセルレベルでの、光学特性評価・焼付き評価
■複数台のパネルモジュールを長時間・一括・自動測定
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
OLEDパネルモジュール 寿命評価ソリューション

お探しの製品は見つかりませんでした。
1 / 1
光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化
光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化とは?
光技術・フォトニクス業界において、光半導体や電子デバイスの寿命を延ばすことは、製品の信頼性向上、メンテナンスコスト削減、そして持続可能な社会の実現に不可欠です。これは、デバイスの性能劣化や故障の原因となる様々な要因を抑制し、より長く安定した動作を可能にすることを目指します。
課題
熱による劣化
デバイス動作中に発生する熱は、材料の変質や構造の損傷を引き起こし、寿命を縮める主要因です。
電気的ストレス
過電圧や過電流、サージ電流などの電気的ストレスは、デバイス内部の微細構造にダメージを与え、早期故障の原因となります。
環境要因への脆弱性
湿度、温度変化、振動、化学物質への暴露などは、デバイスの性能低下や物理的な損傷を招きます。
材料の経年劣化
使用される材料自体の化学的・物理的な経年変化は、時間とともにデバイスの特性を悪化させます。
対策
高度な放熱設計
効率的な熱伝導材料や構造を採用し、デバイスから発生する熱を速やかに外部へ逃がすことで、熱による劣化を抑制します。
堅牢な回路保護
サージ保護素子や過電流保護回路を組み込み、予期せぬ電気的ストレスからデバイスを保護します。
環境耐性の強化
防水・防塵コーティング、耐熱・耐湿性材料の使用、振動吸収構造の導入により、過酷な環境下での耐久性を向上させます。
高信頼性材料の採用
長期間の使用に耐えうる、劣化しにくい高品質な材料を選択し、デバイスの根本的な耐久性を高めます。
対策に役立つ製品例
高性能放熱基板
熱伝導率の高い特殊素材を使用し、デバイスからの熱を効率的に拡散・放散させることで、過熱による劣化を防ぎます。
耐環境性封止材
湿度や化学物質、温度変化に強く、デバイスを外部環境から確実に保護し、長期的な安定動作を支えます。
高耐久性電源モジュール
内蔵された保護回路が、サージや過電圧からデバイスを保護し、電気的ストレスによるダメージを最小限に抑えます。
精密温度制御システム
デバイス周辺の温度を常に最適な範囲に保つことで、熱による材料劣化や性能低下を防ぎ、寿命を大幅に延長します。

