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エレクトロニクス・テスト向け|114社の製品一覧
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こんなお悩みございませんか?
・外観検査やX線検査では判定できない基本的な動作を非破壊で確認したい
・メーカー規定のスペックを満たす製品か選別したい
コアスタッフの解析センターでは
半導体・電子部品の『真贋判定』や『故障解析』など、お客様に最適なサービスを提案いたします!!
コアスタッフの 半導体・電子部品 解析センター
『Summitシリーズ』は、自社開発ソフトウェア「メッシュマッチング」を
搭載した実装基板外観検査装置です。
画像に一律の大きさのメッシュを掛け、良品画像と検査画像の同位置を比較。
専門的なスキルが不要で短時間で設定完了できます。
【特長】
■作成管理が大変だった従来のパーツライブラリが不要
■柔軟性と高い検出精度の両立を実現
■AI-Meshによる自動検査設定機能搭載
■シンプル&コンパクト
■多品種少量生産の現場で効果を発揮
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AI-Mesh搭載 実装基板外観検査装置『Summitシリーズ』
●バッファメモリ 1Gbit(専用CFカード)
●シングル、Dual、Quad モードに対応
●SPI専用のハード設計により
デバイス実力値を妨げない高速書込み
●USB接続により最大8台のGANG書込み可能
SPIフラッシュ専用シリアルプログラマ AF9201
大村技研の『バーンインシステム』は、半導体デバイスや電子部品に温度や
電気的ストレスを加え、初期故障品の選定に役立つシステムです。
量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで、デバイス品種/処理数、
印加信号等のニーズに沿った機能を付加したシステムの製作が可能です。
省スペースタイプや、高発熱デバイス対応型、低温試験対応タイプなど、
使用状況に合わせた種類をお選びいただけます。
【特長】
■初期故障品の見極めに
■量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで
■使用状況に合わせた特長を持った製品を選択可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』
超音波C-SCAN画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊で半導体内部を評価する装置です。
高速・高解像度新型スキャンシステムで、最小0.5μm各軸移動量、超高速A/D変換ボードとの組合わせにより微小欠陥検出が可能です。オプションで最高500MHzの高周波対応可能です。
※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてご覧ください。
半導体・電子部品の内部を映像化!欠陥を見つける超音波診断装置
当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス
信頼性評価」について詳しく解説しております。
温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する電子部品の温度サイクル試験や
X線による物質への影響や耐性を評価するX線照射試験など、豊富にご紹介。
ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。
【掲載内容】
■信頼性試験
■電子部品の温度サイクル試験
■温度サイクル試験による経時劣化の観察
■熱衝撃試験による経時劣化の観察
■X線照射試験
■表面実装部品のはんだ耐熱性試験
■半導体パッケージの接合強度試験
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【資料】受託分析サービス 信頼性評価
携帯電話(ガラケー /iPhone/Android)のリユース業務に不可欠な各種ツールをご提供致します。
業界団体認定のソフトウェアデータ消去をはじめ、「診断」のウルトラエックステクノロジーを応用したツールを揃えております。
現場の声を第一に反映した本ツールは、国産の「最高のリユース業務サポートツール」です。
【特長】
■リユース品買取時のロスを最小限に
不正改造(ルートハッキング)診断
ICカードチェック
■販売図の付加価値に
iPhoneバッテリーチェックツール
電話帳移行ツール
■さらに効率化をアップするサポート機能
クラウド機能
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください
モバイル向け診断・消去ツール『Mobile Pliers』
LCRエリート1はコイル、コンデンサおよび抵抗を高精度で測定するように設計されています。また表面実装部品の値を測定したり識別するだけでなく、電子回路のトラブルシューティングで簡単かつ効率的なソリューションを提供します。
金メッキされた繊細な先端が容易かつ確実に表面実装部品に接触するように設計されています。
【特徴】
○片手簡単操作で表面実装部品測定
○テスト・チップを自動認識&測定周波数を自動設定
○高速測定&高速表示
○USB充電(2.5h充電で一日使用可能)
○見やすいOLEDディスプレイ
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
LCRメータ 「LCR Elite1」
当社の『シグナル、MEMS、MOSFET、リレー テスター』をご紹介いたします。
最大1000ch分のデバイスのバーンイン処理が可能な「MEMSバーンインテスター」
をはじめ、4aアレイ品に対応した「MOSFETリレーテスター」、特性試験装置
などをラインアップしています。
当資料では、各種テスターの特長や適用について掲載しています。
掲載されているテスター装置は納入実績の一例です。
用途に応じたカスタマイズも承りますので、お気軽にお問い合わせください。
【掲載製品】
■ライフ&特性 MEMSリレーテスター
■MEMS バーンインテスター
■ライフ&特性リレーテスター
■MOSFET リレーテスター
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シグナル、MEMS、MOSFET、リレー テスター
従来のMODEL400シリーズに比べて、搭載するバッファメモリの大容量化(従来比2倍:512Gbit)及び高速化(従来比1.7倍)を計り、業界最高クラスのプログラミングスピードをより一層高めて、ギガバイトクラスの大容量デバイスに効率の良い書込みを提供します。
更に、個々のデバイスに、固有のシリアル番号、ユニークID、MACアドレス等の異なったデータを、自動的に書込むシリアライズ機能にも対応しています。
ギャングプログラマ MODEL400e+シリーズ
JMS-N1008-UNCは8chのIPカメラ映像入力に対応し、H.265/H.264のコーデックと超小型筐体に2.5型ハードディスク2台の搭載を実現し、4Kの高精細映像出力も可能なネットワークビデオレコーダーです。









