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小ロット生産向け検査とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける小ロット生産向け検査とは?

電気的検査・テスタの小ロット生産向け検査とは、少量多品種の電子部品や製品に対して、電気的な特性や機能が設計通りに動作するかを確認する試験プロセスです。試作品開発、カスタム製品、ニッチ市場向け製品などの製造において、品質保証と開発サイクルの短縮を目的として実施されます。

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LCRエリート1はコイル、コンデンサおよび抵抗を高精度で測定するように設計されています。また表面実装部品の値を測定したり識別するだけでなく、電子回路のトラブルシューティングで簡単かつ効率的なソリューションを提供します。
金メッキされた繊細な先端が容易かつ確実に表面実装部品に接触するように設計されています。

【特徴】
○片手簡単操作で表面実装部品測定
○テスト・チップを自動認識&測定周波数を自動設定
○高速測定&高速表示
○USB充電(2.5h充電で一日使用可能)
○見やすいOLEDディスプレイ

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

LCRメータ 「LCR Elite1」

『回路素子関連測定器 製品カタログ』は新品・中古品販売・校正・修理
受付
まで計測器のトータルソリューションを提供している東洋計測器株式会社の
カタログです。

電子デバイスの研究開発から、生産・品質保証、装置組み込みまで、
さまざまな用途に対応する「LCRメータ」をはじめ、11000カウント分解能と
デュアル・ディスプレイの「Cメータ」などを掲載しています。

今ならカタログを無料進呈中!

【掲載製品】
■LCRメータ
■Cメータ
■ハンドヘルド LCRメータ
■DCミリオームメーター
■デジタルLCRメータ ほか

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

回路素子関連測定器 製品カタログ

フラッシュサポートグループカンパニーは、フラッシュメモリを
始めとする半導体メディアへデータを書き込むデバイスプログラム及び
関連製品の企画・開発・製造と自社製品を使用したプログラミング
サービスを提供しています。

「プログラミングサービス事業」では、書き込み設備を持たないお客様に、
自社製プログラミングシステムと徹底した品質管理により、高品質な
プログラミングサービスを提供しています。

【事業内容】
■デバイスプログラマ事業
■プログラミングサービス事業

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

フラッシュサポートグループカンパニー 事業案内

当社では、NORをはじめとするフラッシュメモリ、マイコン、各種の
モジュールなどにデータの書込み、消去、書換えなどを行うことができる
プログラマアダプタを取り扱っております。

一般的にはメモリデバイスのパッケージに合わせた変換アダプタを
併用して書込みを行います。

プログラマアダプタを装着することでICプログラマを変更せずにそのまま
作成したパッケージのICをプログラミングできるようになります。

【ラインアップ(一部)】
■Microchip アダプタ チッププログラミングアダプタ
■FTDI Chip Viniculum-II IDE用 チッププログラミングアダプタ
■Texas Instruments 64ピンZIFソケットボード チッププログラミングアダプタ
■Microchip RJ-11アダプタ用 PM3 ICSP チッププログラミングアダプタ
■Microchip Vpp電圧リミッタ用 MPLAB ICD 2 チッププログラミングアダプタ

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【プログラマ・デバッガ】プログラマアダプタ ラインアップ一覧

変換アダプタのソケット部は消耗品であり、使用回数の増加とともに
端子接触面の汚れや半田転写などにより劣化が進み、書込み不良を発生させる
ことがあります。

変換アダプタはデバイスの書込み仕様により専用回路を搭載する必要があります。

ソケットの劣化によるアダプタ交換時のコスト削減のために、アダプタを
2枚基板構成としたうえで、ベース基板には専用回路を搭載することによって、
交換基板にはソケットのみを実装したアダプタとなりました。

この変換アダプタによって、ソケット劣化によるアダプタ交換時はソケットが
実装された上の基板のみを交換することで済むため、ランニングコストの削減が
可能となります。

【特長・目的】
■コスト削減
■カスタム対応

※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※下記より、会社案内資料をダウンロードいただけます。

【コスト削減事例】 2枚基板構成のアダプタ

インサーキットテスト(プリント基板の電気検査)のプロービング方法には、治具式とフライングプローブ式とがあります。
「インサーキットテスタの基礎知識」資料をダウンロードし、ご覧ください。

治具式
コンタクトプローブが埋め込まれた検査治具を検査基板に接触、全てのプローブを同時に基板上の所定のテストポイントに接触させます。その状態で、計測ラインをリレーで切り替えながら各電子部品の検査を実行します。検査対象となる基板には,それぞれの検査を組み合わせるプログラムと,専用の治具を製作する必要があり,コスト、スピード、保管スペースの面で課題があります。

フライングプローブ式
プローブを保持した複数のアームが基板上の任意のポイントにプロービングを行います。プローブ移動時間が必要で、治具式と比較すると検査時間は長いですが,治具が不要でプログラム入れ替えだけで段取り替えできるため,工程トータルで見た場合、時間・コスト削減につなげられます。また、多品種少量生産の基板検査にも適します。テストポイントの座標も任意に変更でき、基板の部分的な設計変更への対応も容易です。試作基板検査や不良解析などでも利用されています。

【インサーキットテストの基礎知識】治具式とフライング式の違いとは

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電気的検査・テスタにおける小ロット生産向け検査

電気的検査・テスタにおける小ロット生産向け検査とは?

電気的検査・テスタの小ロット生産向け検査とは、少量多品種の電子部品や製品に対して、電気的な特性や機能が設計通りに動作するかを確認する試験プロセスです。試作品開発、カスタム製品、ニッチ市場向け製品などの製造において、品質保証と開発サイクルの短縮を目的として実施されます。

課題

高コストな専用治具の必要性

少量生産では、各製品バリエーションごとに専用の検査治具を開発・製造する必要があり、そのコストが生産コストを圧迫します。

検査プログラム開発の負担

多品種少量生産では、製品ごとに異なる検査プログラムを作成・管理する必要があり、開発工数と時間が膨大になります。

柔軟性の欠如とリードタイムの長期化

固定的な検査設備やプロセスでは、仕様変更や追加要求への対応が難しく、製品の市場投入までのリードタイムが長くなる傾向があります。

熟練オペレーターへの依存

複雑な検査設定やトラブルシューティングには高度な専門知識を持つオペレーターが必要となり、人材確保と育成が課題となります。

​対策

汎用性の高いテストプラットフォームの活用

様々な製品に対応できるモジュール式やソフトウェア制御型のテストプラットフォームを導入し、治具やプログラムの共通化を図ります。

自動化・標準化された検査フローの構築

検査手順を標準化し、自動化ツールやスクリプトを活用することで、プログラム開発工数を削減し、検査の再現性を高めます。

迅速な仕様変更に対応できる柔軟な検査システム

ソフトウェア設定で検査内容を変更できるシステムや、迅速に治具を交換できる仕組みを導入し、変化に強い検査体制を構築します。

検査プロセスのデジタル化と遠隔管理

検査データのデジタル化、クラウド連携、遠隔からの設定・監視機能を活用し、オペレーターの負担軽減と効率的な運用を実現します。

​対策に役立つ製品例

モジュール式テストシステム

必要に応じて機能モジュールを追加・交換できるため、様々な製品仕様に対応でき、治具コストを削減します。

ソフトウェア定義型テストベンチ

ソフトウェアの更新や設定変更で検査内容を柔軟に変更できるため、プログラム開発工数を大幅に削減します。

自動化されたテスト実行ソフトウェア

検査手順の自動実行、データ収集、レポート作成までを効率化し、人的ミスを減らし、検査時間を短縮します。

クラウドベースの検査データ管理システム

検査データの集約・分析・共有を容易にし、品質改善活動を促進するとともに、遠隔からの検査状況把握を可能にします。

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