top of page

エレクトロニクス・テストに関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。

温度変化への耐性とは?課題と対策・製品を解説

目的・課題で絞り込む

カテゴリで絞り込む

テスタ
外観検査装置
検査関連部品
測定・試験・分析機器
非破壊検査装置
分析受託サービス

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは?

エレクトロニクス製品が、様々な温度環境下で設計通りの性能を発揮し、故障なく動作し続ける能力を評価することです。これにより、製品の信頼性、安全性、および長期的な品質が保証されます。

​各社の製品

絞り込み条件:

▼チェックした製品のカタログをダウンロード

​一度にダウンロードできるカタログは20件までです。

当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス
信頼性評価」について詳しく解説しております。

温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する電子部品の温度サイクル試験や
X線による物質への影響や耐性を評価するX線照射試験など、豊富にご紹介。

ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。

【掲載内容】
■信頼性試験
■電子部品の温度サイクル試験
■温度サイクル試験による経時劣化の観察
■熱衝撃試験による経時劣化の観察
■X線照射試験
■表面実装部品のはんだ耐熱性試験
■半導体パッケージの接合強度試験

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【資料】受託分析サービス 信頼性評価

それと共に必要なのが安全と信頼性。どんな環境でも壊れず安全に使えるよう試験は切っても切り離せません。

エレクトロニクスソリューションカタログ

当社試験所は管理された環境と確かな手順による信頼性評価サービスを
ご提供します。

標準規格のほかに、ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応可能。

半導体・電子パネル・電子部品・実装基板・ガラス・各種材料に
対応しています。

【環境試験・機械強度試験(一部)】
■高温試験
■低温試験
■高温高湿試験
■HAST試験/オートクレーブ試験
■温度サイクル試験/気槽冷熱衝撃試験/ヒートサイクル試験

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

信頼性評価内容

・寿命が長く経済的な温度センサー
・コテ先形状にかかわらず、わずか数秒で正確な温度を測定
・カウントアラーム表示等、便利な機能を装備

コテ先温度計 TTM-140

『高・低温試験機』は、電子部品から完成品までの自動エージング機能
試験が可能な当社オリジナルのシステムです。

低温(-40℃)から高温(+125℃)までのインライン化を実現。

デバイス(BGA、HIC等)から実装基板の様々な用途における
インライン高低温エージング機能試験を実現しました。

【特長】
■槽内ワーク個数180個で25秒タクトで搬送できる
■低温槽は内部にWコイルを組み込んである
■低温槽は除霜のタイムロスが無く、連続運転が可能
■省スペースでの設置が可能
■低温側から高温側への高速移動により、ヒートショック試験が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

エージングシステム『高・低温試験機』

当社の『HDD信頼性評価サービス』では、お客様が新規にHDDを
採用される際に、安心してお使いいただけるHDDを選択できるように
耐久性マージン試験等、各種環境試験をご用意させていただきます。

温湿度耐久性マージン試験や温度サイクルマージン試験のほか、
減圧(高度)環境でのHDD動作マージン試験、電圧マージン試験など、
HDDの実力を確認する事のできる各種マージン試験の対応が可能です。

【サービス内容】
■温湿度耐久性マージン試験
■温度サイクルマージン試験
■振動、衝撃マージン試験
■減圧、電圧マージン試験 など

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

HDD信頼性評価サービス

ISAは自社HP互換装置の輸出販売を通して築き上げた海外HP関連企業とのネットワークを活用し、HP再輝対策(リファービッシュ)済み製品を世界から調達し、更に独自の検査・エージングを加えた上で、他の製品と同じ1年間を保証期間としています。海外では製品保証期間の習慣から、再輝対策(リファービッシュ)済み製品の無償保証期間が、通常「無し」または長くても「3ヶ月」程度です。弊社は、再輝対策済み製品を通常製品と同じように捉えて販売しています。安心してご利用ください。

【リファービッシュメント】HP/Agilent・Sun旧製品

『343シリーズ』は、電気機器内に侵入し易い設計となっている
微小表面用温度センサ(差込型)です。

パイプ形状が30°タイプで、金属/非金属のどちらでも計測可能。

用途として、ICパッケージの温度分布測定やプリント基板の表面温度測定などに
お使いいただけます。

【特長】
■電気機器内に侵入し易い設計
■金属/非金属のどちらでも計測可能
■ストレート/30°タイプをご用意
■ICパッケージの温度分布測定などに使用可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

微小表面用温度センサ(差込型)『343シリーズ』

SSC株式会社は、温度計測機器をもっと楽に組み込むためのモジュール『SSVシリーズ』を発売しました。

当製品は、サーモパイルアレイセンサーを使用した温度計測モジュールで、温度換算された計測値が出力されます。

掲載しているラインナップ以外にも豊富な画素数(64~1万画素)と視野角度(狭~広視野角)から選択いただけます。
標準品の販売だけでなく、お客様の要望に合わせたカスタム品やOEMも承っておりますのでお気軽にご相談下さい。

【温度計測をもっと容易にするために】
■温度換算された出力で、簡単に温度計測が可能
■測定対象物の赤外線にて非接触で温度を測定
■測定物に傷がつかず、衛生的
■サーモパイルアレイセンサーを使用した高いコストパフォーマンスを実現

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

(基板の温度監視での利用)サーモカメラモジュール

横河レンタ・リースでは、新ソフトウェアオプションが搭載された
ラジオコミュニケーションアナライザ『MT8821C』を取り扱っております。

3GPP TS36.521-1の6章、7章で規定されているLTE Cat-M1とNB-IoTの
TRx測定を行うことが可能です。

消費電力試験を対象機器と通信した状態で評価が行えることから、
eDRX、PSMの動作状況を確認できます。

【新ソフトウェアオプション 特長】
■LTE CatM1/NB IoT 規格に対応
■3GPP 規格適合性評価が可能
■低消費電力の実現に寄与

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【レンタル】ラジオコミュニケーションアナライザ『MT8821C』

『310シリーズ』は、パイプ形状がストレートタイプになっている
微小表面用温度センサ(差込型)です。

電気機器内に侵入し易い設計で、金属/非金属のどちらでも計測可能。

また、パイプ形状が30°タイプの「343シリーズ」もご用意しております。

【特長】
■電気機器内に侵入し易い設計
■金属/非金属のどちらでも計測可能
■ストレート/30°タイプをご用意
■ICパッケージの温度分布測定などに使用可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

微小表面用温度センサ(差込型)『310シリーズ』

ETS320は、短い試験時間で電子回路や電子装置を評価するためにデザイ
ンされた赤外線測定システムであり、高感度のサーモグラフィカメラと一体型スタンドを組み合わせた廉価版サーモグラフィカメラです。研究開発や製品試験など、システムの機能を評価する際、熱は重要な指標ととなることがあります。ETS320を用いれば、エンジニアや試験技術者は正確で信頼性のあるデータを簡単に収集し、素早く分析することが可能になります。

【特長】
■国内フルメンテナンス
■高分解能が可能にする顕微測定
■手動/自動レベルスパン調整
■ハンズフリー設計
■Tools+標準添付

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お問い合わせ下さい。

エレクトロニクス試験用サーモグラフィ FLIR ETS320

北米ETLマークは、エジソンが自らの電球を試験して安全保障の証としてつけたのが始まりです。幅広い製品分野でサービス提供が可能ですので、電気製品を海外に出荷する際はご相談ください!

■北米(ETL)、欧州(CE)、スウェーデン(S)等含む海外向け電気安全試験および試験レポート、証明 書発行
■グローバル市場向けCBスキームにおける電気安全試験およびCBレポート、CB証明書発行
■欧州 機械指令(MD)、低電圧指令(LVD)に基づく評価試験

電気安全試験

赤外線測温センサーは、幅広い業界から求められ、ご要求に応じて開発されました。『RTS-J148SR-T』は、赤外線測温センサーの代表品番となります。測温素子および、温度検出用サーミスタで構成されております。一体型の密閉型TO-46(18)センサーパッケージを採用。多様な温度計タイプの機器で使用可能です。

※他にも非接触人感センサーの製品もご用意しております。

【特長】
■MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)の技術で製造
■測温素子および、温度検出用サーミスタで構成
■一体型の密閉型TO-46(18)センサーパッケージを採用
■温度測定に使用
■多様な温度計タイプの機器で使用可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【低価格】非接触式赤外線測温センサー 素子サーモパイル

お探しの製品は見つかりませんでした。

1 / 1

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは?

エレクトロニクス製品が、様々な温度環境下で設計通りの性能を発揮し、故障なく動作し続ける能力を評価することです。これにより、製品の信頼性、安全性、および長期的な品質が保証されます。

課題

温度サイクルによる材料劣化

急激な温度変化が繰り返されることで、部品の膨張・収縮が起こり、はんだ接合部や基板に微細な亀裂が生じ、断線や接触不良を引き起こす可能性があります。

極端な温度下での性能低下

高温または低温環境下では、半導体素子の特性が変化したり、バッテリーの性能が著しく低下したりするなど、製品の機能が設計値から外れることがあります。

結露によるショート・腐食

温度変化に伴う結露は、電子部品のショートや金属部分の腐食を引き起こし、予期せぬ故障の原因となります。

試験環境の再現性不足

実際の使用環境を正確に再現した温度変化試験を行うことが難しく、試験結果の信頼性にばらつきが生じる場合があります。

​対策

温度サイクル試験の実施

製品を高温と低温の間で繰り返し曝露させることで、温度変化による材料の疲労や劣化を早期に検出し、設計改善に繋げます。

恒温恒湿試験による評価

一定の温度と湿度を保つ環境で製品を評価し、特定の温度条件下での性能安定性を確認します。また、結露の発生しやすさも評価します。

加速寿命試験の導入

実際の使用環境よりも厳しい温度条件を設定し、短期間で製品の寿命を評価することで、長期的な信頼性を予測します。

高精度な温度制御装置の活用

試験環境の温度を精密に制御できる装置を使用し、再現性の高い試験を実施することで、より信頼性の高い評価データを得ます。

​対策に役立つ製品例

温度・湿度試験チャンバー

設定された温度・湿度条件を精密に制御し、製品を様々な環境下で試験できる装置です。温度変化の速度やサイクルも細かく設定可能です。

熱衝撃試験装置

製品を短時間で極端な温度変化に曝露させることで、材料の熱応力や急激な劣化を評価する装置です。温度変化の激しさをシミュレーションします。

環境試験シミュレーションソフトウェア

実際の使用環境における温度変化パターンを分析・シミュレーションし、最適な試験条件を設計するためのソフトウェアです。試験の効率化と精度向上に貢献します。

高精度温度センサー

製品内部や試験環境の温度をリアルタイムで正確に測定し、試験データの信頼性を高めるためのセンサーです。微細な温度変化も捉えます。

bottom of page