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デバイス特性の評価とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは?

エレクトロニクス製品の品質と信頼性を保証するために、デバイスが設計通りの電気的特性を有しているかを確認するプロセスです。テスタと呼ばれる測定器を用いて、電圧、電流、抵抗、周波数応答などのパラメータを測定し、規格値との一致度を評価します。これにより、製品の性能低下や故障を未然に防ぎ、市場投入の安全性を確保します。

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こんなお悩みございませんか?
・外観検査やX線検査では判定できない基本的な動作を非破壊で確認したい
・メーカー規定のスペックを満たす製品か選別したい

コアスタッフの解析センターでは
半導体・電子部品の『真贋判定』や『故障解析』など、お客様に最適なサービスを提案いたします!!

コアスタッフの 半導体・電子部品 解析センター

大村技研の『バーンインシステム』は、半導体デバイスや電子部品に温度や
電気的ストレスを加え、初期故障品の選定に役立つシステムです。

量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで、デバイス品種/処理数、
印加信号等のニーズに沿った機能を付加したシステムの製作が可能です。

省スペースタイプや、高発熱デバイス対応型、低温試験対応タイプなど、
使用状況に合わせた種類をお選びいただけます。

【特長】
■初期故障品の見極めに
■量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで
■使用状況に合わせた特長を持った製品を選択可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』

LCRエリート1はコイル、コンデンサおよび抵抗を高精度で測定するように設計されています。また表面実装部品の値を測定したり識別するだけでなく、電子回路のトラブルシューティングで簡単かつ効率的なソリューションを提供します。
金メッキされた繊細な先端が容易かつ確実に表面実装部品に接触するように設計されています。

【特徴】
○片手簡単操作で表面実装部品測定
○テスト・チップを自動認識&測定周波数を自動設定
○高速測定&高速表示
○USB充電(2.5h充電で一日使用可能)
○見やすいOLEDディスプレイ

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

LCRメータ 「LCR Elite1」

当社の『シグナル、MEMS、MOSFET、リレー テスター』をご紹介いたします。

最大1000ch分のデバイスのバーンイン処理が可能な「MEMSバーンインテスター」
をはじめ、4aアレイ品に対応した「MOSFETリレーテスター」、特性試験装置
などをラインアップしています。

当資料では、各種テスターの特長や適用について掲載しています。

掲載されているテスター装置は納入実績の一例です。
用途に応じたカスタマイズも承りますので、お気軽にお問い合わせください。

【掲載製品】
■ライフ&特性 MEMSリレーテスター
■MEMS バーンインテスター
■ライフ&特性リレーテスター
■MOSFET リレーテスター

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

シグナル、MEMS、MOSFET、リレー テスター

横河レンタ・リースでは、アンリツ社製の無線LANテストセット『MT8862A』を
取り扱っております。

無線LAN搭載機器を実動作状態での測定モードである"ネットワークモード"により
完成品を簡単にチェック。

市販のアクセスポイントへアクセスするのと同じ操作で、無線LAN搭載製品から
当製品にアクセスすることで性能評価を行うことが可能です。

【特長】
■1台で主要な送受信性能を評価
■ログ機能による接続性問題の解決をサポート
■実動作状態(ネットワークモード)で動作確認
■簡単セットアップ
■簡単測定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【レンタル】無線LANテストセット『MT8862A』

Ez-SPD はDDR, DDR2, DDR3, DDR4, DDR5, UDIMM, RDIMM, SODIMM 専用のSPD EEPROM プログラマーです。

DDR2/3/4/5 SPDプログラマー

REX-USB61mk2はUSBデバイスとWindows用アプリケーションで実現する、高速・多機能版SPI/I2C プロトコル・エミュレーターセットです。

SPIやI2C仕様の各種デバイスの動作確認、評価。組み込み用デバイスのデバッグ環境がWindowsでで構築可能となります。

従来モデル(REX-USB61)より約6倍の高速通信を実現しました。(当社比、SPI使用時)

SPIはマスターモードとスレーブモードに対応。バス幅はSingle/Dual/Quadに対応。対応周波数は762MHz~50MHz。クロックモード(Mode0から3)が選択可能。Slave Selectを1ポート搭載。(正論理、負論理の選択可能)

I2Cモードはマスターモードとスレーブモードに対応。通信モードはStandard、Fast、Fast-mode Plus、High-Speed、Ultra-fastモードをサポート。対応周波数は762Hz~5MHz。クロックストレッチ、マルチマスターに対応。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

Protocol Emulator高機能REX-USB61mk2

当製品は、GALILEOの特許所有者が開発したシミュレーターです。

SIEMENSの流れを汲む最大108ch.のハードウエアになっており、QZSS、IMES、
GLONASS、COMPASS等にもソフトウエアでアップグレードが容易に可能。

携帯電話機能試験に必要なシナリオ作成機能を標準搭載しており、
長期的にコストパフォーマンスに優れた製品です。

【特長】
■GALILEOの特許所有者が開発したシミュレーター
■SIEMENSの流れを汲む最大108ch.のハードウエア
■QZSS、IMES、GLONASS、COMPASS等にもソフトウエアでアップグレードが容易
■長期的にコストパフォーマンスに優れた製品
■携帯電話機能試験に必要なシナリオ作成機能を標準搭載

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

GPS/GALILEOシミュレータ

『回路素子関連測定器 製品カタログ』は新品・中古品販売・校正・修理
受付
まで計測器のトータルソリューションを提供している東洋計測器株式会社の
カタログです。

電子デバイスの研究開発から、生産・品質保証、装置組み込みまで、
さまざまな用途に対応する「LCRメータ」をはじめ、11000カウント分解能と
デュアル・ディスプレイの「Cメータ」などを掲載しています。

今ならカタログを無料進呈中!

【掲載製品】
■LCRメータ
■Cメータ
■ハンドヘルド LCRメータ
■DCミリオームメーター
■デジタルLCRメータ ほか

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

回路素子関連測定器 製品カタログ

LoRaWANネットワークの信号評価と最適化に最適なパートナーです。5.72 インチ HD タッチ スクリーンを搭載し、指先でリアルタイムのネットワーク信号テストと分析を実行できるため、LoRaWANデバイスの導入と管理が容易になります。
ゲートウェイとノード間の RSSI、SNR、パケット損失率などの主要なメトリックの評価を即座に表示します。これらの洞察により、LoRaWANネットワークの品質を迅速に評価し、LoRaWANデバイスを展開するのに最適な場所を見つけることができます。
● リアルタイムのネットワーク信号テストと分析
● 5.72 インチ HD タッチ スクリーン
● 全周波数帯域テスト機能
● GPS 位置情報とともに信号テスト結果を記録
● シームレスなレポートのエクスポートとデータ分析
● 長時間のバッテリー寿命

フィールド テスター FT101

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

当社では、NORをはじめとするフラッシュメモリ、マイコン、各種の
モジュールなどにデータの書込み、消去、書換えなどを行うことができる
プログラマアダプタを取り扱っております。

一般的にはメモリデバイスのパッケージに合わせた変換アダプタを
併用して書込みを行います。

プログラマアダプタを装着することでICプログラマを変更せずにそのまま
作成したパッケージのICをプログラミングできるようになります。

【ラインアップ(一部)】
■Microchip アダプタ チッププログラミングアダプタ
■FTDI Chip Viniculum-II IDE用 チッププログラミングアダプタ
■Texas Instruments 64ピンZIFソケットボード チッププログラミングアダプタ
■Microchip RJ-11アダプタ用 PM3 ICSP チッププログラミングアダプタ
■Microchip Vpp電圧リミッタ用 MPLAB ICD 2 チッププログラミングアダプタ

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【プログラマ・デバッガ】プログラマアダプタ ラインアップ一覧

コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダム・アクセス・
メモリ(DRAM)信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルが
仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。

アイダイアグラム・テストを利用してシグナルインテグリティー条件の
解析に要する時間を大幅に短縮することで、信号品質をすばやく
検査することができます。

以下のような課題を『DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト』
により解決します。

【課題】
■シグナルインテグリティーの問題をすばやくデバッグできる柔軟性がない
■リード/ライトの分離が必要
■シンプルなマスクに基づいてテストを行うためのデータバースト内での
 連続ビットの重ね合わせ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト

当社は、通信システムや機器の評価/試験用の装置、アナログ/デジタル回路、
高周波回路、 ハーネス等、お客様の仕様に合わせて信頼性の高い
試験装置/治具をご提供します。

また、開発評価用、製造検査用として自動測定機能もご提供します。

開発評価/検査用の試験装置/治具がご必要な場合は当社にご用命ください。

【設計/開発項目】
■治具・試験装置(架構成含む)
■高周波回路
■アナログ/デジタル回路
■各種ハーネス
■関連制御ソフトウェア

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『試験装置/治具の開発製造』

横河レンタ・リースでは、新ソフトウェアオプションが搭載された
ラジオコミュニケーションアナライザ『MT8821C』を取り扱っております。

3GPP TS36.521-1の6章、7章で規定されているLTE Cat-M1とNB-IoTの
TRx測定を行うことが可能です。

消費電力試験を対象機器と通信した状態で評価が行えることから、
eDRX、PSMの動作状況を確認できます。

【新ソフトウェアオプション 特長】
■LTE CatM1/NB IoT 規格に対応
■3GPP 規格適合性評価が可能
■低消費電力の実現に寄与

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【レンタル】ラジオコミュニケーションアナライザ『MT8821C』

HDBaseTの伝送路(LANケーブルの品質・敷設環境)や、使用されるHDBaseT対応機器(エクステンダー・プロジェクター等)を簡単にテストできるHDBaseTテスターです。

HDBaseTテスター MS-TestPro

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは?

エレクトロニクス製品の品質と信頼性を保証するために、デバイスが設計通りの電気的特性を有しているかを確認するプロセスです。テスタと呼ばれる測定器を用いて、電圧、電流、抵抗、周波数応答などのパラメータを測定し、規格値との一致度を評価します。これにより、製品の性能低下や故障を未然に防ぎ、市場投入の安全性を確保します。

課題

測定精度のばらつき

テスタの校正不足や環境要因により、測定結果にばらつきが生じ、正確なデバイス特性評価が困難になる。

多様なデバイスへの対応

最新の複雑なデバイスや多種多様なインターフェースに対応できる汎用性の高いテスタの選定・運用が難しい。

データ管理と解析の煩雑さ

大量の測定データを効率的に収集、管理、分析するシステムが未整備で、迅速な品質判断や改善に繋がりにくい。

コストと時間の制約

高精度なテスタの導入・維持コスト、および詳細な特性評価に要する時間の増加が、開発・製造プロセスの効率を低下させる。

​対策

定期的な校正と環境管理

テスタの定期的な校正を実施し、温度・湿度などの測定環境を適切に管理することで、測定精度の安定化を図る。

モジュール式テスタの活用

必要に応じて測定モジュールを交換・追加できるテスタシステムを導入し、様々なデバイス特性評価に対応できる柔軟性を確保する。

自動化されたデータ収集・解析システム

測定データを自動で収集・記録し、統計解析や異常検知を行うソフトウェアを導入することで、データ管理と解析の効率を向上させる。

テスト自動化と効率化

テストシーケンスの自動化や、複数の特性を一度に測定できる機能を持つテスタを活用し、評価にかかる時間とコストを削減する。

​対策に役立つ製品例

高精度測定器

微細な電気的特性の変化も高精度に捉え、デバイスの真の性能を評価できる。

多機能テストシステム

様々な種類のデバイスや測定項目に対応できるモジュール構成や拡張性を持ち、多様なニーズに応える。

データ管理・解析ソフトウェア

測定データの自動集計、グラフ化、統計分析、傾向分析などを効率的に行い、迅速な意思決定を支援する。

自動テストシステム

テスト手順の自動化、複数デバイスの同時テスト、レポート自動生成などにより、評価プロセス全体の効率を大幅に向上させる。

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