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部品内部の構造観察とは？課題と対策・製品を解説
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非破壊検査における部品内部の構造観察とは？
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『AMI-41J』は、PCカードリーダライタ「AMI-41G」「AMI-41H」の
上位互換性をもつ後継機種であり、従来作成されたアプリケーション
プログラムを変更することなく使⽤できるPCカードリーダライタです。
PCとUSBインターフェースにて接続し、ATAカードはもちろん、産業機器、
データロガーなどで使用され続けているSRAMカードや
リニアフラッシュメモリカードをサポートします。
メモリカードの記録フォーマットに関わりなく、カードのデータ内容を
確認・編集などの操作ができます。
【特長】
■USB インターフェースにより、PC と容易に接続
■幅広いメモリデバイスが使用可能
■サポートソフトウェアには「CardUT-41」が含まれる
■フラッシュメモリの書き込み用としてVpp 12Vが供給可能
■静電除去対策、堅牢な筐体等、業務用途に好適
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PCカードリーダライタ『AMI-41J』
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非破壊検査における部品内部の構造観察
非破壊検査における部品内部の構造観察とは？
エレクトロニクス部品の内部構造を、破壊せずに観察・評価する技術です。製品の品質保証、故障解析、信頼性評価に不可欠であり、微細化・高密度化が進む現代の電子部品において、その重要性は増しています。
課題
微細構造の識別困難
部品内部の微細な配線や積層構造、異物などを高解像度で捉え、識別することが難しい場合があります。
内部欠陥の検出精度
クラック、ボイド、層間剥離などの微細な内部欠陥を、正確かつ確実に検出する技術が求められます。
解析時間の長期化
複雑な構造を持つ部品の内部観察には、多くの時間と専門知識が必要となり、迅速な評価が困難になることがあります。
データ解析の複雑性
得られた画像データから、定量的な評価や詳細な解析を行うための専門的なソフトウェアやスキルが不足する場合があります。
対策
高解像度イメージング技術
従来の限界を超える解像度を持つ画像取得技術を導入し、微細構造の鮮明な観察を実現します。
高度な欠陥検出アルゴリズム
AIや機械学習を活用したアルゴリズムにより、微細な欠陥を見逃さず、高い検出精度を達成します。
自動化・高速化システム
検査プロセスを自動化し、短時間で多数の部品を効率的に評価できるシステムを構築します。
統合解析プラットフォーム
画像取得からデータ解析、レポート作成までを一元管理できるソフトウェアを提供し、解析の効率化を図ります。
対策に役立つ製品例
高周波イメージング装置
電磁波を用いて、非金属材料や複雑な構造を持つ部品の内部を、高い分解能で可視化します。
三次元X線CTスキャナー
X線を多角的に照射し、部品内部の三次元構造を詳細に再構築することで、欠陥の位置や形状を正確に把握できます。
超音波探傷システム
超音波の反射波を利用して、材料内部の異物や亀裂などの欠陥を検出します。特に金属や複合材料に有効です。
画像解析ソフトウェア
取得した非破壊検査画像を、自動で解析し、欠陥の有無や寸法測定、構造解析などを効率的に行うための機能を提供します。
