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塗装・メッキ膜厚の均一性とは？課題と対策・製品を解説
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品質管理・検査工程における塗装・メッキ膜厚の均一性とは？
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『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、
高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。
スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の
同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。
各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な
各種膜構造の膜厚測定ができます。
【特長】
■高感度高分解能ヘッド(オプション)にて酸化膜換算で70μmまで測定可能
■100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能
■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能
■さまざまなアプリケーション(磁気ヘッド、FPD、材料研究等)に対応し、
用途別に試料台作成可能(オプション)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光干渉式膜厚測定装置『Model3100』
Elcometerの自動フィルムアプリケーターは、特に、次の点を考慮して設計されています。
・一定の塗布速度
・ 滑らかな動き。塗膜がまだらになったり厚さがばらつくことはありません。
・高い繰り返し性と再現性
どのモデルにも、最新技術を採用した塗布台が付属、真空吸引孔・吸引溝やヒーター付きのモデルもあります。また、平坦な塗膜が得られるように、どのアプリケーターも、座標測定機によって正確に測定されています。また、各種Leneta試験紙もご用意しています。白地や黒地、白黒のさまざまなパターンのものがあります。
自動フィルムアプリケーター 4340
『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の
膜厚測定および素材分析機器です。
シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。
品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な
形状の測定にも対応できます。
高精度で長期安定性がFISCHERSCOPE X-RAYシステムの大きな特長で、
キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。
【特長】
■現場に携帯し測定できる
■シリコンドリフト検出器搭載
■高精度かつ高い検出感度
■小型部品や複雑な形状の測定にも対応
■時間と手間が削減できる
対象例：貴金属・金属・メッキ関連 など
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』持ち運び可能！
『CMX／CMX DL』は、一般・腐食検査用の超音波厚さ計です。
Bスコープ表示、自動零点校正、自動温度補正、スキャンモード、
差厚測定モードなど様々な機能を搭載。また、画面の文字を大きくするなど
見易さ・操作性も向上させました。
さらに、専用ソフトウェア(DakView3)も付属しております。
【特長】
■膜厚測定機能搭載
■一般・腐食検査用
■見易さ・ 操作性が向上
■スキャンモード(高速サンプリング＆最小値・最大値ホールド機能)
■専用ソフトウェア(DakView3)付属
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
超音波厚さ計『CMX／CMX DL』
『ポジテクター 200』は、非磁性金属表面の非電導性皮膜の厚さを測定できる
超音波膜厚計です。
PosiTector200シリーズの膜厚計で、木材やコンクリート表面 の
塗膜の厚さを測る事が可能です。
ポジテクター本体は装着するプローブに合わせて機能を自動的に変化。
本体は1つで済みますので、いつもの感覚・感触のまま
別の機能の計測器を操作することができます。
【特長】
■ISO 2808、JIS K5600-1-7、ASTM D6132に適合
■非磁性金属表面の非電導性皮膜の厚さを測定
■PosiTector200シリーズの膜厚計
■木材やコンクリート表面の塗膜の厚さを測る
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超音波膜厚計『ポジテクター 200』
『TX100PM』は、本体とUV照度センサーが分離型の照度モニターです。
パルス発光の紫外線照度の観測を可能にしました。 UV照度センサーは
特定波長(365mm)に対応し、TX2000の発光と同期して照度を観測します。
RS‐232Cで外部装置と通信もでき、小型軽量で、持ち運びに便利です。
【特長】
■本体とUV照度センサーが分離型
■パルス発光の紫外線照度の観測が可能
■UV照度センサーは特定波長(365mm)に対応
■RS‐232Cで外部装置と通信可能
■小型軽量
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
UVパワーモニター『TX100PM』
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品質管理・検査工程における塗装・メッキ膜厚の均一性
品質管理・検査工程における塗装・メッキ膜厚の均一性とは？
塗装やメッキ処理において、製品表面に施される膜厚が均一であることは、製品の性能、耐久性、外観を保証する上で極めて重要です。品質管理・検査工程では、この膜厚の均一性を測定・評価し、規格値からの逸脱がないかを確認します。均一な膜厚は、腐食防止、電気的特性の安定、意匠性の向上などに直接影響します。
課題
局所的な膜厚不足による性能低下
製品の一部で膜厚が不足すると、その部分の耐食性や電気的特性が低下し、早期の劣化や機能不全を引き起こす可能性があります。
過剰な膜厚によるコスト増と加工性低下
膜厚が過剰になると、材料の無駄遣いによるコスト増に加え、後工程での組み立てや加工が困難になる場合があります。
目視検査だけでは捉えきれない微細なムラ
人の目だけでは、微細な膜厚のムラや局所的な欠陥を見落としやすく、品質保証レベルの低下を招く恐れがあります。
検査時間の長期化と生産性への影響
手作業による膜厚測定は時間がかかり、検査工程がボトルネックとなり、全体の生産性を低下させる要因となります。
対策
非接触式膜厚測定器の導入
製品に触れることなく、レーザーや光を利用して膜厚を高速かつ高精度に測定し、均一性をリアルタイムで把握します。
自動検査システムの構築
画像処理技術と組み合わせ、製品全体を自動でスキャンし、膜厚のムラや異常箇所を自動で検出・記録します。
プロセスパラメータの最適化と管理
塗装・メッキ条件（温度、時間、濃度など）を最適化し、安定した膜厚が得られるよう、製造プロセスを厳密に管理します。
統計的品質管理（SQC）の活用
測定データを統計的に分析し、傾向やばらつきを把握することで、問題発生の予兆を検知し、予防的な対策を講じます。
対策に役立つ製品例
光学式膜厚計
光の反射や干渉を利用して、非接触で迅速かつ高精度に塗装・メッキ膜厚を測定し、均一性を評価します。
画像処理検査装置
高解像度カメラと画像解析ソフトウェアにより、製品表面の膜厚ムラや欠陥を自動で検出し、定量的に評価します。
プロセス監視・制御システム
製造ラインの各種パラメータをリアルタイムで監視・記録し、塗装・メッキ条件の安定化と均一な膜厚形成を支援します。
データ解析・レポート作成ソフトウェア
測定データを集計・分析し、品質レポートを作成することで、品質管理の効率化と改善活動を促進します。
