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位置決め精度向上とは?課題と対策・製品を解説

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半導体組立装置

ワイヤーボンディングにおける位置決め精度向上とは?

半導体パッケージングにおけるワイヤーボンディングは、半導体チップと外部端子を微細な金属ワイヤーで接続する重要な工程です。この工程における位置決め精度は、電気的特性や信頼性に直結するため、極めて高い精度が求められます。位置決め精度の向上は、製品の高性能化、小型化、そして信頼性向上に不可欠です。

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『FC-8000』は、ステムとキャップを搬送し高精度で位置合わせ後、
抵抗溶接する全自動溶接機です。

高精度のプレス機構を用いて電極部を構成。溶接実行荷重は、
ロードセルを用いて計測します。

また、画像処理を用い、高精度にてキャップとステムのθ補正を
実施するほか、溶接後のTABずれ検査機能を装備しております。

【特長】
■高精度のプレス機構を用いて電極部を構成
■溶接実行荷重は、ロードセルを用いて計測
■画像処理を用い、高精度にてキャップとステムのθ補正を実施
■溶接後のTABずれ検査機能装備

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

光デバイス用キャップシーラー『FC-8000』

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ワイヤーボンディングにおける位置決め精度向上

ワイヤーボンディングにおける位置決め精度向上とは?

半導体パッケージングにおけるワイヤーボンディングは、半導体チップと外部端子を微細な金属ワイヤーで接続する重要な工程です。この工程における位置決め精度は、電気的特性や信頼性に直結するため、極めて高い精度が求められます。位置決め精度の向上は、製品の高性能化、小型化、そして信頼性向上に不可欠です。

課題

微細化に伴うターゲットずれ

半導体チップや配線パターンの微細化が進むにつれて、ワイヤーボンディングのターゲットとなるパッドのサイズも小さくなり、わずかな位置ずれが許容範囲を超えてしまう。

熱膨張・収縮による変形

ボンディング工程中やその前後の温度変化により、チップや基板がわずかに膨張・収縮し、本来の位置からずれることで、ボンディング位置の誤差が生じる。

外観検査の限界

従来の目視や簡易的な自動検査では、微細な位置ずれを正確に検出し、定量的に評価することが困難である。

工程間のばらつき

前工程での位置決め精度や、搬送時の振動などが影響し、ワイヤーボンディング工程に持ち込まれる時点での位置にばらつきが生じる。

​対策

高精度画像認識技術の導入

高解像度カメラと高度な画像処理アルゴリズムを用いて、チップ上のランドマークや配線パターンを正確に認識し、ボンディング位置をリアルタイムで補正する。

温度補償機能付きボンディング装置

ボンディング装置自体に温度センサーを搭載し、温度変化による材料の伸縮をリアルタイムで検知・補償することで、ボンディング位置のずれを最小限に抑える。

3D計測・検査システムの活用

レーザーや光学式センサーを用いた3次元計測により、ボンディング前のパッドの高さや傾き、さらにはボンディング後のワイヤー形状まで高精度に測定・評価する。

AIによる位置予測・補正

過去のボンディングデータや工程情報をAIが学習し、次回のボンディング位置を予測・補正することで、工程間のばらつきによる影響を低減する。

​対策に役立つ製品例

高解像度ビジョンシステム

微細なターゲットを正確に捉え、位置ずれをリアルタイムで検出・補正するための高精度な画像認識機能を提供する。

インテリジェントボンディングヘッド

温度変化や基板の微細な凹凸に対応し、常に最適なボンディング圧と位置でワイヤーを接続する機能を備えている。

自動位置補正ソフトウェア

画像認識結果やセンサーデータを基に、ボンディング装置の動作を自動で調整し、位置決め精度を向上させる。

精密位置決めステージ

極めて高い精度でチップや基板を移動させ、ボンディングターゲットへの正確なアライメントを実現する。

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