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高電力・高熱環境下での安定動作とは?課題と対策・製品を解説

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バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作とは?

半導体パッケージングにおけるバーンインは、製品の初期不良を排除し、信頼性を向上させるための重要なプロセスです。特に、高電力・高熱環境下でのバーンインは、デバイスに過酷なストレスを与えることで、潜在的な欠陥を早期に顕在化させます。この環境下でデバイスが安定して動作することは、最終製品の品質保証に不可欠です。

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『MEMSマイクロホン』は、シリコンマイクとも呼ばれ、
半導体微細加工技術を用いて製造されるマイクロホンです。

小型で様々な製品に組込みが可能。耐熱性に優れており、
リフロー実装が可能です。

ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。

【仕様】
■型式:MM105
■サイズ(mm):3.35×2.5×1.0
■感度(dB):-37dB±1dB
■S/N(dB):64dB
■特長/用途:動作温度(105℃)対応、30Hz位相規定/ANC・アレイマイク等、
       リフロー対応品

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

MEMSマイクロホン

ハイクマイクロ株式会社は、サーマル設備とそれによるソリューションズを
提供するリーディング会社です。

SoC及びMEMSの設計・開発・生産に専念し、サーマル検出器、コア、モジュール、
カメラ及び包括的なソリューションズをグローバル市場に提供。

現地サポート・支援体制を強化しており、商談・サポート全て
日本語対応が可能です。

【事業内容】
■防犯・映像
■顔認証端末
■サーマル
■AIソーリュション
■車番認識・関連

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ハイクマイクロ株式会社 会社案内

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バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作

バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作とは?

半導体パッケージングにおけるバーンインは、製品の初期不良を排除し、信頼性を向上させるための重要なプロセスです。特に、高電力・高熱環境下でのバーンインは、デバイスに過酷なストレスを与えることで、潜在的な欠陥を早期に顕在化させます。この環境下でデバイスが安定して動作することは、最終製品の品質保証に不可欠です。

課題

熱暴走による性能低下

高電力印加時に発生するジュール熱が蓄積し、デバイスの温度が許容範囲を超えると、性能が著しく低下したり、誤動作を引き起こしたりする可能性があります。

熱応力による物理的損傷

温度変化による材料の膨張・収縮の差が、パッケージ内部の配線や接合部に物理的なストレスを与え、亀裂や剥離などの損傷を引き起こすリスクがあります。

電源供給の不安定化

高電力負荷がかかることで、電源ラインに電圧降下やノイズが発生し、バーンイン中のデバイスへの安定した電力供給が困難になることがあります。

冷却能力の限界

バーンイン装置の冷却能力が、デバイスから発生する熱量に対して不足している場合、設定温度を維持できず、本来のバーンイン効果が得られないことがあります。

​対策

高度な熱設計と冷却システム

デバイスの発熱特性を詳細に分析し、最適な放熱構造や効率的な冷却システムを設計・導入することで、熱暴走を防ぎ、安定した温度管理を実現します。

材料選定と構造最適化

熱膨張係数の近い材料の選定や、応力を緩和するパッケージ構造の採用により、熱応力による物理的損傷のリスクを低減します。

安定した電源供給回路

高電流に対応できる低インピーダンスの電源供給回路や、ノイズフィルタリング機能を備えた電源システムを導入し、安定した電力供給を確保します。

精密な温度・電力制御

リアルタイムで温度と電力を監視し、フィードバック制御を行うことで、設定されたバーンイン条件を厳密に維持し、過剰なストレスや不足を防ぎます。

​対策に役立つ製品例

高性能熱伝導材料

デバイスとヒートシンク間の熱伝達効率を飛躍的に向上させ、熱暴走を防ぎ、安定した温度管理を可能にします。

高信頼性パッケージ基板

熱応力に強く、高温・高湿環境下でも優れた電気的・機械的特性を維持する特殊な材料で製造されており、物理的損傷リスクを低減します。

高安定性電源モジュール

高電力負荷時でも安定した電圧・電流を供給し、バーンイン中のデバイスに均一なストレスを与えることで、信頼性の高い評価を実現します。

インテリジェントバーンイン装置

高度なセンサーと制御アルゴリズムにより、温度・電力・時間を精密に管理し、デバイスの状態をリアルタイムで最適化することで、安定したバーンインプロセスを提供します。

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