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データの解析と原因の特定とは?課題と対策・製品を解説

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製品検査におけるデータの解析と原因の特定とは?
半導体パッケージング業界における製品検査データの解析と原因特定は、製造プロセスにおける不良品の発生要因を突き止め、品質向上と歩留まり改善を目指す活動です。検査で得られた膨大なデータを分析し、隠れたパターンや異常を検出することで、問題の根本原因を特定し、再発防止策を講じることが目的となります。
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東北大学技術:多用途MEMSジャイロセンサ:T15-153他
本発明は、ジャイロセンサのうち、FMジャイロセンサに関する。
従来のFMジャイロセンサは、温度変化や部材の製造誤差によって、測定精度が下がるという課題があった。これは、センサに用いる振動子を2つ用いるために、それら振動子間に生じる温度変化の差や、製造誤差によって、振動子の特性を同一に保てないことに起因していた。
これに対して本発明では、振動子を単一とし、異なるモード の振動を印加しすることで、上記の課題を解決する。
本発明を用いるジャイロセンサは、上記の通り測定精度が高いのみなら
ず、原理上、磁気センサや圧力センサとしても機能することができ、産業上の優位性をもつと考えれらる。
上記ジャイロセンサ、磁気センサ、圧力センサ各種で特許取得・出願している。
【資料】MEMS部品の構造解析
【受託サービス】リバースエンジニアリングPlus 実績例



