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設計エラーの早期検出とは?課題と対策・製品を解説

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回路・パターン設計における設計エラーの早期検出とは?
半導体製造プロセスにおいて、回路設計およびパターン設計段階で発生するエラーを、開発の初期段階で発見・修正すること。これにより、手戻りによる開発期間の遅延やコスト増大を防ぎ、製品の品質向上と市場投入までの時間短縮を目指す。
各社の製品
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CMOS 32Gb/s パルスパターンジェネレータ
当社では、Atilia Technology社製『CMOS 32Gb/s パルスパターンジェネレータ』を
取り扱っております。
本パルスパターン発生器(PPG)「P1」は、CMOSベース32Gb/s、またそれ以上の
ビットレートまで高い品質の作動出力データを提供します。
外部ハーフレート方式(すなわち32Gb/sデータの場合、16GHzのクロックインプット)
によって駆動し、27-1、215-1、223-1、231-1の疑似ランダムパターン(PRBS)を
出力できると共に10-3、10-6、10-9及び0の エラーを挿入できます。
【特長】
■高性能
■コンパクトで低価格
■独立したパルスパターン設定
■最大60psのスキュー設定が可能
■2ch、4chタイプもご用意
※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高速レイアウトビューア『SView・SView-PC』
『SView・SView-PC』は、大規模GDS2ストリームデータを高速に
表示して手軽に確認ができるレイアウトビューアです。
DRCで発生した擬似エラーの内容確認が容易にでき、実エラーか
否かを判断できます。
また、使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、
レイアウトデータの内容確認作業が単独でしかも容易にできるため、
設計CADプログラムの使用効率が高まります。
【特長】
■既存のレイアウトデー タの内容確認がすぐできる
■必要なデータの発見が容易
■GDS2ストリームデータの気になるポイントも直ちに確認が可能
■DRCで発生した擬似エラーの内容確認が容易にできる
■設計CADプログラムの使用効率が高まる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非接触ホバーセンサ
『非接触ホバーセンサ』は、
既存システムに載せてUSBケーブルを挿すだけで
簡単にタッチフリー(空中タッチ)を実現する透明ガラスセンサです。
不特定多数の人が触れる場所や、医療施設・食品工場など衛生管理の厳しい状況で、
直接触れずに操作することで不安をなくし、安心・安全で清潔な環境を提供します。
感染対策や汚れ防止、清掃頻度の削減にも繋がります。
【特長】
■センサ表面から約5cm離れた位置での指検出を実現
■手袋を装着した状態での操作も可能
■独自開発のアルゴリズムでタッチパネル同様の直感的な操作
■用途・使用環境に合わせた検出高さの変更が可能
■専用ドライバインストール不要でUSBケーブルを挿すだけの簡単接続
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Quadcept Force<半導体不足の対応策>
『Quadcept Force』の"CCM(Cloud Component Manager)"では、
部品ライブラリを一元管理することで、従来の運用課題を解決に導きます。
CCMと電子部品DBを連携させることにより、部品EOL予測情報・環境データ・
データシートを取得し、EOL発生時に設計図面上で代替部品の比較や選定が可能。
社内の基幹システムやPDM、ERPと柔軟に同期でき、既存システムも
生かすことで高いパフォーマンスを発揮します。
【特長】
■CCMと電子部品DBを連携 させることで、部品EOL予測情報・
環境データ・データシートを取得
■今あるシステムとの柔軟な連携が可能
■純国産の製品で大規模な組織でも安心
■データの一元管理により曖昧管理から脱却
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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