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成形不良の低減とは?課題と対策・製品を解説
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モールディングにおける成形不良の低減とは?
半導体パッケージング工程におけるモールディングは、半導体チップを外部環境から保護し、電気的な接続を確立するための重要なプロセスです。この工程で発生する成形不良は、製品の信頼性低下や歩留まり悪化に直結するため、その低減は業界全体の品質向上とコスト削減に不可欠です。
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『M-CONTactシリーズ』は、生産工程で完成に近づいていく過程の
モジュールの動作確認、検査を全自動で行う為に必須な機能として、
シグナルインターフェースに自動コンタクト可能なFPDモジュール
自動点灯検査装置です。
自由度、発展性をコンセプトに、多品種少量生産の自動化、省人化、
設置スペース効率化を実現。
装置サイズ小型化によりニーズに合わせた装置レイアウトへ
フレキシブルに対応します。
【特長】
■確実に点灯させる技術:検査対象物の汎用性
■フレキシブル対応技術:構成自由度、発展性
■適切な検査環境技術:機能確保、安定性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FPDモジュール自動点灯検査装置『M-CONTact シリーズ』

